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產(chǎn)品簡介
SMT貼片技術(shù)UV-B雙通道便攜紫外計，采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
產(chǎn)品分類
SMT貼片技術(shù)UV-B雙通道便攜紫外計
SMT貼片技術(shù)UV-B雙通道便攜紫外計產(chǎn)品介紹
UV-B型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
性能特點
1、光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
2、數(shù)字液晶顯示，帶背光
3、手動/自動量程切換
4、數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
5、低電量提醒
6、自動延時關(guān)機(jī)
7、有數(shù)字保持
8、輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
9、雙通道探頭，滿足更多波長不同測量要求
技術(shù)參數(shù)
項目 | 參數(shù)(雙通道，雙探頭） |
波長范圍λ1，峰值波長λp | （230～275）nm，λP＝254nm |
波長范圍λ2，峰值波長λp | （275～330）nm，λP＝297nm |
輻照度測量范圍 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
紫外帶外區(qū)雜光 | UV254<0.1%，UV297<0.05% |
相對示值誤差 | ±8％（相對于NIM標(biāo)準(zhǔn)） |
角度響應(yīng)特性 | ±5% （α≤10°） |
線性誤差 | ±1% |
換檔誤差 | ±1% |
短期不穩(wěn)定性 | ±1%（開機(jī)30min后） |
疲勞特性 | 衰減量<2% |
零值誤差 | 滿量程的±1% |
響應(yīng)時間 | <1秒 |
使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） |
整機(jī)功耗 | ＜0.1VA |
配置 | 主機(jī)、254探頭、297探頭、探頭蓋2個、數(shù)據(jù)線、說明書、合格證、9V電池等 |
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